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復(fù)合探針測(cè)量?jī)x
2019-08-21
復(fù)合探針影像測(cè)量?jī)x探針主要應(yīng)用于接觸式測(cè)量，影像與探針配合，互補(bǔ)滿足：空間高度、空間平面度、圓柱、圓錐、球、空間點(diǎn)、空間面等元素的測(cè)量。在高精度測(cè)量要求的汽車配件，模具零部測(cè)量的應(yīng)用。在高精度測(cè)量要求的汽車配件，模具零部測(cè)量的應(yīng)用。強(qiáng)大的VCAD-3D測(cè)量軟件，可實(shí)現(xiàn)所有二維平面測(cè)量功能，還具備拍地圖、產(chǎn)品輪廓掃描、SPC統(tǒng)計(jì)、手動(dòng)CNC、宏測(cè)量等功能。自帶測(cè)頭可實(shí)現(xiàn)部分三維尺寸接觸式測(cè)量。技術(shù)參數(shù)：儀器型號(hào)PZ-3020TPZ-4030TPZ-5040T量測(cè)行程300*20...
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金相顯微鏡價(jià)格
2019-08-21
測(cè)量金相顯微鏡該光學(xué)自動(dòng)化檢測(cè)設(shè)備主要用于LCB、PDP、PCB等相關(guān)的光電產(chǎn)業(yè)，為其研發(fā)、制造提供所需的檢測(cè)設(shè)備。具有觀察OLB壓接粒子分布、液晶板表面貼附的異物、液晶板劃傷情況、面板上的Bonding效果測(cè)量導(dǎo)電粒子大小、數(shù)量等功能。測(cè)量金相顯微鏡金相光學(xué)觀察系統(tǒng)，JTM-260180A可以觀察110寸液晶面板可實(shí)現(xiàn)明暗視野的觀察以及導(dǎo)電粒子微分干涉觀察。系統(tǒng)使用人體工學(xué)設(shè)計(jì)理念設(shè)計(jì)，符合友好化測(cè)量、采用主動(dòng)式減震系統(tǒng)，花崗石本體結(jié)構(gòu)，能剛好的克服環(huán)境震動(dòng)問(wèn)題。人性化計(jì)算...
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測(cè)量投影儀
2019-08-21
CPJ-6020V落地式投影儀成像清晰，放大倍率準(zhǔn)確。投影屏直徑Φ600mm，大物方視場(chǎng)為Φ120mm，可滿足大尺寸零件的輪廓測(cè)量和坐標(biāo)測(cè)量，配合尋邊器可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)尋邊采點(diǎn)，消除人眼瞄準(zhǔn)的誤差。技術(shù)規(guī)格參數(shù)：型號(hào)CPJ-6020VX軸坐標(biāo)行程(mm)200Y軸坐標(biāo)行程(mm)100金屬臺(tái)面尺寸(mm)404×265玻璃臺(tái)面尺寸(mm)270×170數(shù)顯分辨力(μm)0.5示值誤差(mm)2.5+L/75(L為被測(cè)物體長(zhǎng)度，單位：mm)Z軸坐標(biāo)行程(mm)50(調(diào)...
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TOM-Ⅱ 影像儀
2019-08-21
影像測(cè)量?jī)x主要適合測(cè)量精密、微小的工件，價(jià)格便宜、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，操作方便，在測(cè)量行業(yè)內(nèi)得到好評(píng)。本儀器在秉承了PZ-TOM-II基礎(chǔ)之上加以改進(jìn)，使您更加快捷、輕松的完成測(cè)量工作。適用于五金機(jī)械，冶金模具、汽車航空，電子紡織、科研院校等行業(yè)。單視場(chǎng)影像測(cè)量?jī)x簡(jiǎn)介T(mén)OM-Ⅱ系列影像測(cè)量?jī)x結(jié)合了傳統(tǒng)光學(xué)與數(shù)字科技，具有軟件功能，可將以往用肉眼在傳統(tǒng)顯微鏡下所觀察到的影像數(shù)字化，并將其儲(chǔ)存入電腦中作各種量測(cè)、繪圖之用,并可將所得之資料存檔或以電子郵件發(fā)送也可以直接轉(zhuǎn)換為DXF標(biāo)準(zhǔn)交換文...
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鐳射修補(bǔ)顯微鏡
2019-08-20
鐳射修補(bǔ)顯微鏡該設(shè)備采用全新的模組化設(shè)計(jì)，操作簡(jiǎn)單、方便、可靠，功能齊全，可應(yīng)用于治金、半導(dǎo)體、電子等行業(yè)的設(shè)計(jì)、品管、測(cè)試、制造等單位，及相關(guān)檢測(cè)設(shè)備、探針工作站、四點(diǎn)探測(cè)平臺(tái)、鐳射標(biāo)準(zhǔn)、鐳射切割、鐳射加工等等使用該設(shè)備采用模組化設(shè)計(jì)，操作簡(jiǎn)單、方便、可靠，功能齊全，可應(yīng)用于治金、半導(dǎo)體、電子等行業(yè)的設(shè)計(jì)、品管、測(cè)試、制造等單位，及相關(guān)檢測(cè)設(shè)備、探針工作站、四點(diǎn)探測(cè)平臺(tái)、鐳射標(biāo)準(zhǔn)、鐳射切割、鐳射加工等等使用。科研領(lǐng)域：電子、電機(jī)、物理、光電、材料、化學(xué)、化工、機(jī)械、奈米、生...
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LCD檢測(cè)顯微鏡
2019-08-20
TFT-LCD檢測(cè)顯微鏡該光學(xué)自動(dòng)化檢測(cè)設(shè)備主要用于LCB、PDP、PCB等相關(guān)的光電產(chǎn)業(yè)，為其研發(fā)、制造提供所需的檢測(cè)設(shè)備。具有觀察OLB壓接粒子分布、液晶板表面貼附的異物、液晶板劃傷情況、面板上的Bonding效果測(cè)量導(dǎo)電粒子大小、數(shù)量等功能。TFT-LCD檢測(cè)顯微鏡該光學(xué)自動(dòng)化檢測(cè)設(shè)備主要用于LCB、PDP、PCB等相關(guān)的光電產(chǎn)業(yè)，為其制造提供所需的檢測(cè)設(shè)備。具有觀察OLB壓接粒子分布、液晶板表面貼附的異物、液晶板劃傷情況、面板上的Bonding效果測(cè)量導(dǎo)電粒子大小、數(shù)...
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芯片檢測(cè)儀器
2019-08-20
芯片檢測(cè)影像測(cè)量?jī)x可以測(cè)量十五種幾何元素（點(diǎn),直線,平面,圓,圓弧,橢圓,矩形,鍵槽,圓環(huán),圓柱,圓錐,球,開(kāi)曲線,閉曲線,焦面,角度和距離），并且可以測(cè)量高度,也可以預(yù)置基本幾何元素。根據(jù)實(shí)際測(cè)量需求可以選擇接觸式測(cè)量---探針測(cè)量，也可以選擇非接觸式測(cè)量---影像和激光位移器測(cè)量。多種測(cè)量方法:智能尋邊,整體采點(diǎn),多段采點(diǎn),鼠標(biāo)采點(diǎn),鄰近采點(diǎn),十字線采點(diǎn),放大采點(diǎn),對(duì)比采點(diǎn)。每種芯片產(chǎn)量少則幾千件，多則上萬(wàn)件。所有的芯片需要全檢，并根據(jù)不同的尺寸公差，將產(chǎn)品分成優(yōu)、良、差...
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直線度檢測(cè)測(cè)量?jī)x
2019-08-20
直線度影像測(cè)量?jī)x該儀器適用于以二座標(biāo)測(cè)量為目的應(yīng)用領(lǐng)域如：品質(zhì)檢測(cè)、工程開(kāi)發(fā)、繪圖等用途。方便測(cè)量前角、后角、螺旋角、齒隙角等刀具角度，還可以進(jìn)行基本幾何測(cè)量（圓直徑、長(zhǎng)度、刃寬、芯厚、粗糙度等）。相對(duì)于其他產(chǎn)品系列比較而言，該系列具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、承載能力強(qiáng)、工件放置空間開(kāi)闊、直線度影像測(cè)量?jī)x:軟件功能介紹1:幾何元素測(cè)量可以測(cè)量十五種幾何元素(點(diǎn),直線,平面,圓,圓弧,橢圓,矩形,鍵槽,圓環(huán),圓柱,圓錐,球,開(kāi)曲線,閉曲線和焦面)，并且可以測(cè)量高度,也可以預(yù)置基本幾何元素。特...
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